دورية أكاديمية
Instrumentation of Twin-MCMs based mutual-test
العنوان: | Instrumentation of Twin-MCMs based mutual-test |
---|---|
المؤلفون: | Wang, Shun Shen Peter, Yin-Tien, Wang, Choung-Lii, Chao, Wei-Bin, Yang |
المصدر: | In Microelectronics Journal August 2021 114 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 18792391 |
---|---|
DOI: | 10.1016/j.mejo.2021.105108 |