دورية أكاديمية
Prediction of crack growth in IC passivation layers
| العنوان: | Prediction of crack growth in IC passivation layers |
|---|---|
| المؤلفون: | He, Y.T., van Gils, M.A.J., van Driel, W.D., Zhang, G.Q., van Silfhout, R.B.R., Ernst, L.J. |
| المصدر: | In Microelectronics Reliability 2004 44(12):2003-2009 |
| قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
Full Text Finder | تدمد: | 00262714 |
|---|---|
| DOI: | 10.1016/j.microrel.2004.05.022 |