دورية أكاديمية
Characterization of crystalline MOCVD SrTiO 3 films on SiO 2/Si(100)
العنوان: | Characterization of crystalline MOCVD SrTiO 3 films on SiO 2/Si(100) |
---|---|
المؤلفون: | Sibai, A., Lhostis, S., Rozier, Y., Salicio, O., Amtablian, S., Dubois, C., Legrand, J., Sénateur, J.P., Audier, M., Hubert-Pfalzgraff, L., Dubourdieu, C., Ducroquet, F. |
المصدر: | In Microelectronics Reliability 2005 45(5):941-944 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 00262714 |
---|---|
DOI: | 10.1016/j.microrel.2004.11.020 |