دورية أكاديمية

Characterization of crystalline MOCVD SrTiO 3 films on SiO 2/Si(100)

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Characterization of crystalline MOCVD SrTiO 3 films on SiO 2/Si(100)
المؤلفون: Sibai, A., Lhostis, S., Rozier, Y., Salicio, O., Amtablian, S., Dubois, C., Legrand, J., Sénateur, J.P., Audier, M., Hubert-Pfalzgraff, L., Dubourdieu, C., Ducroquet, F.
المصدر: In Microelectronics Reliability 2005 45(5):941-944
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00262714
DOI:10.1016/j.microrel.2004.11.020