دورية أكاديمية
Electron BackScattered Diffraction (EBSD) use and applications in newest technologies development
العنوان: | Electron BackScattered Diffraction (EBSD) use and applications in newest technologies development |
---|---|
المؤلفون: | Courtas, S., Grégoire, M., Federspiel, X., Bicaïs-Lepinay, N., Wyon, C. |
المصدر: | In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1530-1535 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 00262714 |
---|---|
DOI: | 10.1016/j.microrel.2006.07.031 |