دورية أكاديمية
Hot carrier reliability of RF N- LDMOS for S Band radar application
العنوان: | Hot carrier reliability of RF N- LDMOS for S Band radar application |
---|---|
المؤلفون: | Gares, M., Maanane, H., Masmoudi, M., Bertram, P., Marcon, J., Belaid, M.A., Mourgues, K., Tolant, C., Eudeline, P. |
المصدر: | In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1806-1811 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 00262714 |
---|---|
DOI: | 10.1016/j.microrel.2006.07.074 |