S-band pulsed-RF operating life test on AlGaN/GaN HEMT devices for radar application

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	S-band pulsed-RF operating life test on AlGaN/GaN HEMT devices for radar application
المؤلفون:	Moultif, N. ^, Latry, O. ^, Ndiaye, M., Neveu, T., Joubert, E., Moreau, C., Goupy, J-F.
المصدر:	In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
قاعدة البيانات:	ScienceDirect

كن أول من يترك تعليقا!