دورية أكاديمية

Novel failure traces beyond the barrier on the floating device

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Novel failure traces beyond the barrier on the floating device
المؤلفون: Lee, Gwang Wook, Shim, Sunnu, Cho, Wookhyun, Kim, Wonse, Lee, Kisoo, Kim, Jaehyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Koo, Bonyoung
المصدر: In Microelectronics Reliability November 2020 114
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00262714
DOI:10.1016/j.microrel.2020.113874