دورية أكاديمية

Structural and electrical properties of epitaxial Si layers prepared by E-beam evaporation

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Structural and electrical properties of epitaxial Si layers prepared by E-beam evaporation
المؤلفون: Dogan, P., Rudigier, E., Fenske, F., Lee, K.Y., Gorka, B., Rau, B., Conrad, E., Gall, S.
المصدر: In Thin Solid Films 2008 516(20):6989-6993
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00406090
DOI:10.1016/j.tsf.2007.12.082