دورية أكاديمية

Thickness dependence of the amorphous-cubic and cubic-hexagonal phase transition temperatures of GeSbTe thin films on silicon nitride

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Thickness dependence of the amorphous-cubic and cubic-hexagonal phase transition temperatures of GeSbTe thin films on silicon nitride
المؤلفون: Peng, H.K., Cil, K., Gokirmak, A., Bakan, G., Zhu, Y., Lai, C.S., Lam, C.H., Silva, H.
المصدر: In Thin Solid Films 31 January 2012 520(7):2976-2978
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:00406090
DOI:10.1016/j.tsf.2011.11.033