دورية أكاديمية

Stamp deformation and its influence on residual layer homogeneity in thermal nanoimprint lithography

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Stamp deformation and its influence on residual layer homogeneity in thermal nanoimprint lithography
المؤلفون: Merino, S., Retolaza, A., Schift, H., Trabadelo, V.
المصدر: In Microelectronic Engineering May-June 2008 85(5-6):877-880
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:01679317
DOI:10.1016/j.mee.2008.01.045