دورية أكاديمية
Chemical characterization by XPS of Cu/Ge ohmic contacts to n-GaAs
العنوان: | Chemical characterization by XPS of Cu/Ge ohmic contacts to n-GaAs |
---|---|
المؤلفون: | López, M.C., Galiana, B., Algora, C., Rey-Stolle, I., Gabas, M., Ramos-Barrado, J.R. |
المصدر: | In Applied Surface Science 2007 253(11):5062-5066 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 01694332 |
---|---|
DOI: | 10.1016/j.apsusc.2006.11.013 |