LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO 2

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان:	LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO 2
المؤلفون:	Heun, S. ^*, Kremmer, S., Ercolani, D., Wurmbauer, H., Teichert, C.
المصدر:	In Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 2005 144:1163-1166
قاعدة البيانات:	ScienceDirect

كن أول من يترك تعليقا!