دورية أكاديمية
Rutherford backscattering spectrometry analysis of TiO 2 thin films
العنوان: | Rutherford backscattering spectrometry analysis of TiO 2 thin films |
---|---|
المؤلفون: | Fernández-Lima, F., Vigil, E., Zumeta, I., Freire, F.L., Jr. *, Prioli, R., Pedrero, E. |
المصدر: | In Materials Characterization 2003 50(2):155-160 |
قاعدة البيانات: | ScienceDirect |
تدمد: | 10445803 |
---|---|
DOI: | 10.1016/S1044-5803(03)00084-6 |