دورية أكاديمية

Enhanced relaxation of SiGe layers by He implantation supported by in situ ultrasonic treatments

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Enhanced relaxation of SiGe layers by He implantation supported by in situ ultrasonic treatments
المؤلفون: Romanjuk, B. *, Kladko, V., Melnik, V., Popov, V., Yukhymchuk, V., Gudymenko, A., Olikh, Ya., Weidner, G., Krüger, D.
المصدر: In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):171-175
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:13698001
DOI:10.1016/j.mssp.2004.09.030