دورية أكاديمية

Machined quality prediction and optimization for micro-EDM drilling of semi-conductive SiC wafer

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Machined quality prediction and optimization for micro-EDM drilling of semi-conductive SiC wafer
المؤلفون: Cao, Hoang-Tien, Ho, Jeng-Rong, Tung, Pi-Cheng, Lin, Yuan-Ting, Lin, Chih-Kuang
المصدر: In Materials Science in Semiconductor Processing January 2024 169
قاعدة البيانات: ScienceDirect
الوصف
تدمد:13698001
DOI:10.1016/j.mssp.2023.107911