Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie
| العنوان: | Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie |
|---|---|
| المساهمون: | Wahl, Claudia |
| الإتاحة: | http://data.europeana.eu/aggregation/europeana/2048441/item_Y4642TJTZRRFWKELWGMVDCSFCHGGFWRD |
| قاعدة البيانات: | Europeana |
| الوصف غير متاح. |