Atom-probe field ion microscopy: field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Atom-probe field ion microscopy: field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution
المؤلفون: Tsong, Tien Tzou, 1934-
بيانات النشر: Cambridge, England ; New York : Cambridge University Press, 1990.
سنة النشر: 1990
وصف مادي: x, 387 p. : ill. ; 23 cm.
مصطلحات موضوعية: Field ion microscopes., Microscopes., Microscopy., Field ionisation microscopy
Original Identifier: ocm23015584
ocm20422568
QH212.F5 T76 1990
نوع الوثيقة: Book
اللغة: English
ردمك: 978-0-521-36379-2
0-521-36379-9
حقوق: This record is part of the Harvard Library Bibliographic Dataset, which is provided by the Harvard Library under its Bibliographic Dataset Use Terms and includes data made available by, among others, OCLC Online Computer Library Center, Inc. and the Library of Congress.
ملاحظات: Includes bibliographical references (p. 378-383) and index.
رقم الأكسشن: edshlc.001930707.1
قاعدة البيانات: Harvard Library Bibliographic Dataset
الوصف
ردمك:9780521363792
0521363799