دورية أكاديمية

Effect of Positive/Negative Interface Trap Charges on the Performance of Multi Fin FinFET (M-FinFET)

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Effect of Positive/Negative Interface Trap Charges on the Performance of Multi Fin FinFET (M-FinFET)
المؤلفون: Das, Rinku RaniAff1, IDs12633022016699_cor1, Maity, Santanu, Chowdhury, Atanu, Chakraborty, Apurba, Mitra, Suman Kumar
المصدر: Silicon. 14(14):8557-8566
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:1876990X
18769918
DOI:10.1007/s12633-022-01669-9