دورية أكاديمية
Effect of Positive/Negative Interface Trap Charges on the Performance of Multi Fin FinFET (M-FinFET)
العنوان: | Effect of Positive/Negative Interface Trap Charges on the Performance of Multi Fin FinFET (M-FinFET) |
---|---|
المؤلفون: | Das, Rinku RaniAff1, IDs12633022016699_cor1, Maity, Santanu, Chowdhury, Atanu, Chakraborty, Apurba, Mitra, Suman Kumar |
المصدر: | Silicon. 14(14):8557-8566 |
قاعدة البيانات: | Springer Nature Journals |
كن أول من يترك تعليقا!