دورية أكاديمية

Physical properties of memory quality PECVD silicon nitride

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Physical properties of memory quality PECVD silicon nitride
المؤلفون: Khaliq, M. A., Shams, Q. A., Brown, W. D., Naseem, H. A.
المصدر: Journal of Electronic Materials. September 1988 17(5):355-359
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:03615235
1543186X
DOI:10.1007/bf02652118