دورية أكاديمية
In Situ Reflection Electron Microscopy for the Analysis of Silicon Surface Processes: Sublimation, Electromigration, and Adsorption of Impurity Atoms
العنوان: | In Situ Reflection Electron Microscopy for the Analysis of Silicon Surface Processes: Sublimation, Electromigration, and Adsorption of Impurity Atoms |
---|---|
المؤلفون: | Rogilo, D. I.Aff1, Sitnikov, S. V., Rodyakina, E. E., Petrov, A. S., Ponomarev, S. A., Sheglov, D. V., Fedina, L. I., Latyshev, A. V. |
المصدر: | Crystallography Reports. 66(4):570-580 |
قاعدة البيانات: | Springer Nature Journals |
كن أول من يترك تعليقا!