دورية أكاديمية

Enhancement of vertical integration density by engineered BSOI wafers

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Enhancement of vertical integration density by engineered BSOI wafers
المؤلفون: Kaden, C., Langa, S., Ludewig, T., Schönberger, A., Herrmann, A., Göbel, A., Kolkovsky, V., Jeroch, W., Pufe, W.
المصدر: Microsystem Technologies: Micro- and NanosystemsInformation Storage and Processing Systems. :1-6
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:09467076
14321858
DOI:10.1007/s00542-017-3522-6