دورية أكاديمية
Life Testing and Reliability Behavior of Gan/Ingan/Aigan Light-Emitting Diodes
العنوان: | Life Testing and Reliability Behavior of Gan/Ingan/Aigan Light-Emitting Diodes |
---|---|
المؤلفون: | Osinski, M.Aff146, Barton, D. L., Helms, C. J., Berg, N. H., Seager, C. H. |
المصدر: | MRS Online Proceedings Library. 531(1):385-390 |
قاعدة البيانات: | Springer Nature Journals |
تدمد: | 02729172 19464274 |
---|---|
DOI: | 10.1557/proc-531-385 |