دورية أكاديمية

Electromagnetic emission of integrated circuits induced by ionizing radiation and its measurement uncertainties

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Electromagnetic emission of integrated circuits induced by ionizing radiation and its measurement uncertainties
Alternate Title: Elektromagnetische Störemission von integrierten Schaltkreisen verursacht durch ionisierende Strahlung sowie die Bestimmung der Messunsicherheiten
المؤلفون: Czepl, NikolausAff1, IDs00502023012029_cor1, Juch, Nikolaus, Deutschmann, Bernd
المصدر: e+i Elektrotechnik und Informationstechnik. 141(1):56-65
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:0932383X
16137620
DOI:10.1007/s00502-023-01202-9