دورية أكاديمية

Electrical Characterization of Slurry Particles and their Interactions with Wafer Surfaces

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Electrical Characterization of Slurry Particles and their Interactions with Wafer Surfaces
المؤلفون: Park, Jin-Goo, Lee, Sang-Ho, Kim, Hyoung-Gyun, Jeong, Hea-Do, Moon, Doo-Kyung
المصدر: MRS Online Proceedings Library. 566(1):173-178
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:02729172
19464274
DOI:10.1557/proc-566-173