دورية أكاديمية

High precision analysis of finlines on semiconductor substrate

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: High precision analysis of finlines on semiconductor substrate
المؤلفون: Fernandes, Humberto César Chaves, de Souza, Eduardo Armorim Martins, Queiroz, Jr, Idalmir de Souza
المصدر: International Journal of Infrared and Millimeter Waves. January 1995 16(1):185-200
قاعدة البيانات: Springer Nature Journals
الوصف
تدمد:01959271
15729559
DOI:10.1007/bf02085855