دورية أكاديمية

Investigation of the hard x-ray background in backlit pinhole imagers

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Investigation of the hard x-ray background in backlit pinhole imagers
المساهمون: Drake, R. [Department of Atmospheric, Oceanic and Space Sciences, University of Michigan, Ann Arbor, Michigan 48109-2143 (United States)]
المصدر: Review of Scientific Instruments; 85; 11; Other Information: (c) 2014 AIP Publishing LLC; Country of input: International Atomic Energy Agency (IAEA)
وصف الملف: Medium: X; Size: vpage(s)
URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/22308649
قاعدة البيانات: SciTech Connect
الوصف
تدمد:00346748
DOI:10.1063/1.4891051